本科研成果主要是基于面陣CCD開(kāi)發(fā)了一套高溫場(chǎng)測量設備，測溫范圍為800~1200℃，測溫誤差≤±5℃。并對CCD單個(gè)像素響應的非均勻性以及光學(xué)系統的漸暈引起的溫場(chǎng)測量畸變進(jìn)行了有效校正。目前該成果已在IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement、Measurement Science and Technology等測量類(lèi)國際核心期刊上發(fā)表SCI論文4篇。
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單光譜CCD高溫計
類(lèi)型：專(zhuān)利成熟度：正在研發(fā)專(zhuān)利號/型號：交易方式：完全轉讓簡(jiǎn)介： 本科研成果主要是基于面陣CCD開(kāi)發(fā)了一套高溫場(chǎng)測量設備，測溫范圍為800~1200℃，測溫誤差≤±5℃。并對CCD單個(gè)像素響應的非均勻性以及光學(xué)系統的漸暈引起的溫場(chǎng)測量畸變進(jìn)行了有效校正。 -
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